IAR Embedded Workbench线上培训系列(中文)

帮助您更全面地了解IAR Embedded Workbench产品系列和实用技巧

彻底掌握嵌入式Stack

  • 主要内容包括:

    1. 嵌入式内存分布

    2. Stack工作原理

    3. 如何计算分析Stack使用

    4. 如何配置Stack

    5. 如何监控Stack使用

    6. Stack溢出

    7. Stack保护

    8. QA环节

立即回看

CI/CD环境下如何使用调试和仿真

  • 主要内容包括:

    1. 嵌入式行业为什么要用CI/CD?

    2. IAR CI/CD解决方案

    3. IAR Build Tools for Arm 9.50.1

    4. IAR调试器

    5. IAR VS Code extensions

    6. Demo演示

    7. 总结

    8. QA环节

立即回看

多核系统开发和调试

  • 主要内容包括:

    1. 为什么需要使用多核

    2. 多核基本概念
       - Homogeneous (同构多核) vs Heterogeneous (异构多核)
       - SMP (对称多处理) vs AMP (非对称多处理)

    3. 多核系统开发
       - SMP vs AMP

    4. 多核调试
       - SMP vs AMP

    5. Demo

    6. Q&A 环节

立即回看

IAR嵌入式软件构建(Build)

  • 主要内容包括:

    1. 编译器
       -  预编译
       -  编译器优化

    2. 链接器
        -  链接过程
        -  链接文件(ICF)
        -  MAP 文件

    3. IAR Build Tools 命令行自动化构建

    4. Demo

    5.  Q&A 环节

立即回看

使用IAR C-STAT和C-RUN,提高代码质量

  • 主要内容包括:

    1. 代码质量

    2.  常见代码Bug

    3. 编码标准
        -  MISRA
       -   CERT
       -   CWE

    4.  IAR静态代码分析工具C-STAT

    5.  IAR动态代码分析工具C-RUN

    6. Demo 演示

    7. Q&A 环节

立即回看

Visual State状态机开发

  • 主要内容包括:

    1. 状态机实践

    2. UML状态机建模

    3. Visual State状态机开发
         -  建模
         -   验证
         -  生成代码
         -  集成
         -  调试

    4. Demo

    5. Q&A 环节

立即回看

嵌入式软件调试

  • 主要内容包括:

    1. 断点 
         -  代码断点
         -  数据断点
         -  数据Log断点
         -  Log断点

    2. Trace

    3. 常用调试器配置选项

    4. FAQ 
         -  Flash数据在Memory窗口不更新
         -  HardFault
         -  测量代码运行时间
         -  程序调试正常但是单独运行不正常
         -  程序单独运行正常但是调试不正常

    5. C-RUN动态代码分析

    6. Demo演示

    7. Q&A环节 

立即回看

联合网络研讨会

与合作伙伴、客户共同举办

基于Arm Cortex-R52+的车规芯片开发与应用

  • IAR Embedded Workbench for Arm 现已全面紫光同芯第二代汽车域控芯片THA6系列,基于Cortex-R52+内核,赋能高性能与功能安全MCU开发。
    为帮助开发者深入了解基于Arm Cortex-R52+内核的芯片开发,IAR联合Arm和紫光同芯,举办了一场线上研讨会,详细介绍了第二代汽车域控芯片THA6系列的技术优势、开发生态和实际应用案例。
    具体内容包括:
    1. 高性能车规级MCU内核Arm Cortex-R52+详解
    2. 紫光R52+芯平台,共建E/E域架构
    3. IAR赋能Arm Cortex-R52+的软件开发与调试实践
    4. DEMO 演示: IAR Embedded Workbench基于紫光同芯THA6206软件开发调试
    5.问答环节  
立即回看

小华&IAR强强联手,开启工控应用开发新起点

  • IAR已全面支持小华半导体系列芯片,为高端工控与汽车电子应用提供顶级的开发环境与技术支持,用户可通过IAR嵌入式工具安全且高效地开发小华半导体全系列芯片,降低项目成本,加速产品上市。 IAR与小华半导体共同举办本次网络研讨会,帮助客户深入了解HC32F448各模块的特点及应用优势,了解IAR嵌入式安全开发方案如何支持小华HC32F488高性能工控MCU,以满足实时性要求、功耗管理、安全性和可靠性、多功能集成、软件开发和调试,以及可扩展性和升级性等众多挑战。

    具体内容包括:

    1. HC32F448特性以及用例介绍

    2. IAR安全开发方案加速小华半导体HC32F448系列MCU工控应用开发

    3. Demo演示:快速上手,IAR EWARM基于小华HC32F448开发调试嵌入式应用演示

    4. 问答环节

立即回看

IAR与Parasoft在现代化开发工作流中的应用与实践

  • 嵌入式软件越来越复杂,代码库规模不断增长,开发者正不断寻求方法来现代化工作流程。回看本次网络研讨会,了解IAR与Parasoft如何帮助提高效率、提升现代化工作流的性能、最大限度地降低测试成本! 议程包括:

    1. 使用IAR解决方案提高现代开发工作流的性能和生产力 

    将重点介绍IAR的解决方案,包括IAR Build Tools,IAR C-STAT/C-RUN,IAR Debug Probes,如何应用在自动化构建和测试中,在显著提升代码质量和可靠性的基础上,提升现代化工作流的性能,释放生产力。

    2. Parasoft在嵌入式CI/CD流程中的最新实践 

    Parasoft的高级代码分析和测试自动化工具在IAR开发环境下构建高度自动化、基于CI的开发工作流程,以及满足ISO26262等安全标准以及代码覆盖率方面的实践,帮助团队提高开发人员的工作效率、最大限度地降低测试成本。

    3.Demo演示

    4.Q&A环节

立即回看

开箱即用:IAR赋能旗芯微FC7300车规级MCU汽车应用开发

  • 深入介绍旗芯微车规级MCU的技术特点和功能安全标准,并结合IAR提供的嵌入式功能安全开发工具,从软件安全开发到调试测试,帮助用户高效、安全地应对汽车应用安全开发挑战。具体内容包括:

    1. 旗芯微车规级MCU:面向新E/E架构的应用

    将分享旗芯微作为国内领先的车规级控制器芯片提供商的最新进展,重点介绍高算力的ASIL-B和ASIL-D标准车规级控制器芯片,内容涵盖芯片在域控制器、电驱动系统、one-box集成、智能电池管理系统等领域的实际应用与案例,探讨高性能特性如何有效提升系统的安全性与可靠性。

    2. IAR安全开发方案赋能旗芯微FC7300系列车规级MCU汽车应用开发

    当前汽车应用开发面临的挑战主要源于对高功能安全的强烈需求,以及项目周期越来越短。在此背景下,IAR提供的嵌入式功能安全开发解决方案,结合旗芯微FC7300高性能车规级MCU,能够有效帮助用户应对这些挑战。该方案涵盖汽车功能安全应用的全生命周期,包括软件开发、代码分析、调试测试,以及持续集成和持续交付(CI/CD)。这将有助于高效且高可靠性地实施汽车功能安全应用的开发。

    3. Demo演示

    演示如何从旗芯微半导体工具网站获取MCAL/SDK等资料,介绍MCAL/SDK的目录结构、驱动代码位置、工程文件位置等信息,讲解FC7300 demo板的主要功能。获取基础资料后使用IAR EWARM软件调试,展示多核单工程和多核多工程的调试方法,涉及芯片选型、断点设置、寄存器查看、memory窗口查看等内容。

    4. 问答环节  

立即回看

网络研讨会(分主题)

订阅IAR月度简讯Monthly Newsletter

不错过任何一场网络研讨会的邀请!